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专利名称：Device for measuring the characteristics of a
very high frequency component
发明人：BITOUNE, SYLVIANE,GEFFROY,
DOMINIQUE,GROSSIER, FRANCOIS,LE CREFF,MAURICE,RALALA, GERARD
申请号：EP87402913.5申请日：19871218公开号：EP0273825B1公开日：19920408
摘要：Array
申请人：THOMSON COMPOSANTS MICROONDES,THOMSON COMPOSANTSMICROONDES
地址：173, BLD HAUSSMANN; F-75008 PARIS,173, BLD HAUSSMANN; F-75008 PARIS
代理机构：Taboureau, James
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