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专利名称：一种基于仿真建模和短时试验的IGBT间歇寿命试
验方法
专利类型：发明专利
发明人：付桂翠,程禹,万博,姜贸公申请号：CN201610841604.8申请日：20160922公开号：CN107861040A公开日：20180330
摘要：本发明涉及一种基于仿真建模和短时试验的IGBT间歇寿命试验方法，包括以下步骤：步骤一：确定散热条件；步骤二：确定参数控制方法；步骤三：确定失效判据；步骤四：确定器件功率大小和结温控制范围；步骤五：安全工作区及最大允许结温分析；步骤六：实施短时试验；步骤七：仿真建模分析；步骤八：优选间歇寿命试验方案。本方法综合考虑散热条件、参数控制方法、功率大小、温度范围、安全工作区域和失效机理等因素，预选出若干套间歇寿命试验方案，通过进行短时的功率循环试验获得器件在单循环中的升降温时间，利用仿真方法得到器件失效前功率循环次数，预估各预选方案的实际功率循环试验时间，进而优选得到最佳的间歇寿命试验方案。此方法属于功率器件可靠性评价技术领域。
申请人：北京航空航天大学
地址：100191 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
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