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专利名称：一种对复位芯片批量进行环境测试的装置专利类型：实用新型专利发明人：崔珊珊,于治楼,李培钦申请号：CN200920281367.X申请日：20091123公开号：CN201532442U公开日：20100721
摘要：本实用新型公开了一种对复位芯片批量进行环境测试的装置，属于一种复位芯片的测试装置，其结构包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器；测试主板设置有电源接口、复位芯片接口；稳压电源连接测试主板的电源接口；环境试验箱与测试主板相连接，测试主板放置在环境试验箱内；测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。本实用新型的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置和现有技术相比，可以同时对多个复位芯片进行环境测试，数量可达上百个，从而可以充分测试不同的环境下，复位芯片能否可靠的复位；具有设计合理、结构简单、易于加工、使用方便、成本低、可操作性强等特点。
申请人：浪潮齐鲁软件产业有限公司
地址：250100 山东省济南市高新开发区华阳路50号
国籍：CN
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