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专利名称：一种结构损伤识别方法及系统专利类型：发明专利
发明人：艾德米,黎赫东,朱宏平申请号：CN202011146867.X申请日：20201023公开号：CN112378958A公开日：20210219
摘要：本发明公开了一种结构损伤识别方法及系统，利用阻抗仪采集与待识别主结构上各测点相连的各测点处的压电导纳信号，采用随机矩阵进行线性变换生成各测点处压电导纳信号相应的观测向量，并基于压缩感知理论分别对各测点处的观测向量进行压缩感知表示，分别基于各测点处压电导纳的观测向量的压缩感知表示采用凸优化理论求解稀疏解，并基于所得稀疏解对各测点处的压电导纳信号进行恢复，最后与基线工况下恢复完成后的压电导纳信号进行对比，计算各测点处当前工况下导纳信号的谐振峰值点的幅值竖向偏移指标、谐振频率水平偏移指标以及RMSD指标，对当前工况下的主结构进行损伤识别；该方法损伤识别结果较为准确，能够有效识别结构的不同损伤。
申请人：华中科技大学
地址：430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
国籍：CN
代理机构：华中科技大学专利中心
代理人：李智
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