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专利名称:一种分析测定聚酰胺薄层复合分离膜分离层结构参
数的方法
专利类型:发明专利发明人:王志伟,文越,张星冉申请号:CN202010087996.X申请日:20200212公开号:CN111323355A公开日:20200623
摘要:本发明公开了一种分析测定聚酰胺薄层复合分离膜分离层结构参数的方法,属于水处理技术领域。该方法首先通过有机溶剂将薄层复合分离膜的聚酰胺分离层与支撑层分离,将聚酰胺分离层附着在金芯片上,然后通过QCM的流动模块与湿度模块分别测量其上聚酰胺分离层在干燥氮气条件、湿度条件、完全浸没于水的条件下的质量变化,再结合TEM技术所得图片中聚酰胺分离层膜的表面积差值,可以精确测量出聚酰胺分离层膜孔隙率、总厚度与叶片内在厚度结构参数;本发明方法通过将质量变化灵敏的QCM与传统的TEM技术相耦合,精准地量化了薄层复合分离膜的关键截留层—聚酰胺分离层结构参数,突破了传统电镜法仅能从微观尺度观测聚酰胺分离层结构但结构参数难以量化的限制。
申请人:同济大学
地址:200092 上海市杨浦区四平路1239号
国籍:CN
代理机构:北京挺立专利事务所(普通合伙)
代理人:余莹
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