一种X荧光检测石英砂中杂质含量的方法[发明专利]

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专利名称：一种X荧光检测石英砂中杂质含量的方法专利类型：发明专利

发明人：闫雪锋,时伟娜,刘文渊,杨忠杰,王俊明申请号：CN201511015967.8申请日：20151229公开号：CN105651799A公开日：20160608

摘要：本发明公开了一种X荧光检测石英砂中杂质含量的方法，采用标准物质熔制标准样品系列，建立工作曲线，再通过工作曲线测试样品玻璃片中杂质成分的含量。本发明解决了荧光熔片法测试石英砂时标准样品制备过程中低含量物质不易称取导致标准工作曲线偏差大、低含量杂质不易检测的难题，实现含量在10ppm以上的多种杂质的测量，操作便捷，测量结果偏差小，适用于生产中多批次快速测定。

申请人：郑州旭飞光电科技有限公司,东旭光电科技股份有限公司

地址：450016 河南省郑州市郑州经济技术开发区经南三路66号

国籍：CN

代理机构：北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)

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