画鸵萌宠网
专利名称：一种电容测试电路专利类型：实用新型专利发明人：张俊,张杨
申请号：CN201821331016.0申请日：20180817公开号：CN209070021U公开日：20190705
摘要：本实用新型提供了一种电容测试电路，包括：多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板；所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上，所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机，所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪，所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型电路结构简单、成本低廉，直接利用高温老化板作为电容测试用的载体，无需将电容从高温老化板上拆卸，避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果，提高测试结果的可靠性。
申请人：华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
地址：201800 上海市嘉定区嘉罗路1485号
国籍：CN
代理机构：上海段和段律师事务所
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容