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专利名称：用于使用结构化照明经由单元件检测来分析浑浊介
质的方法和设备
专利类型：发明专利发明人：D.J.库恰
申请号：CN201080061773.0申请日：20101119公开号：CN102883658A公开日：20130116
摘要：用于通过下述来获得一个或多个波长下的组织或浑浊介质的光学性质或结构的定性和定量分析的方法和设备：1）两个或更多结构化光条件下的浑浊介质（诸如组织）的表面上的单个空间位置处的检测或2）单个结构化光条件下的表面上的两个或更多空间位置处的检测。
申请人：调节成像公司
地址：美国加利福尼亚州
国籍：US
代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
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