您的当前位置:首页正文

可调波片式偏振干涉成像光谱仪[实用新型专利]

来源:画鸵萌宠网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:可调波片式偏振干涉成像光谱仪专利类型:实用新型专利发明人:马臻,李英才,李旭阳申请号:CN201320262232.5申请日:20130514公开号:CN203274918U公开日:20131106

摘要:本实用新型涉及一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪,包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统;第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上;光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。本实用新型提供了一种结构简单且体积重量大幅减小的可调波片式偏振干涉成像光谱仪。

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所

地址:710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

国籍:CN

代理机构:西安智邦专利商标代理有限公司

代理人:姚敏杰

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Top