偏振式半导体光二极管自相关测量装置[实用新型专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：偏振式半导体光二极管自相关测量装置专利类型：实用新型专利

发明人：李港,陈檬,朱琳,常亮,林陶君,张丙元申请号：CN2006201586.1申请日：20061201公开号：CN200993600Y公开日：20071219

摘要：本实用新型是一种偏振式半导体光二极管自相关测量装置，用于测量超短脉冲激光的脉冲宽度。待测光依次经过准直透镜(1)、1/2波片(2)到达一偏振棱镜(3)，经偏振棱镜(3)分成强度相同但偏振态不同且相互垂直的两束光，其中一束光经过第一1/4波片(4)后垂直入射到第一全反镜(6)上，经第一全反镜(6)反射后沿原路返回到偏振棱镜(3)，另一束光经过第二1/4波片(7)后垂直入射到第二全反镜(8)上，经第二全反镜(8)反射后沿原路返回到偏振棱镜(3)，两束光经过偏振棱镜(3)后经一凹面镜(9)聚焦后会聚到半导体光二极管(10)上。采用偏振式结构，损耗小，能够在较低平均功率下进行测量，测量精度高。

申请人：北京工业大学

地址：100022 北京市朝阳区平乐园100号

国籍：CN

代理机构：北京思海天达知识产权代理有限公司

代理人：沈波

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