专利名称：测试方法及测试系统专利类型：发明专利发明人：纪家铭
申请号：CN202010437379.8申请日：20200521公开号：CN111983338A公开日：20201124
摘要：本发明提供一种测试方法及测试系统。测试方法包含针对待测装置进行电磁测试，以判断出待测装置中的至少一异常区域；以及执行人工智能算法以依据待测装置的至少一异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。
申请人：仁宝电脑工业股份有限公司
地址：中国台北市内湖区瑞光路581号及581之1号
国籍：CN
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
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